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低气压试验箱GB/T4937.2-2006本项试验适用于所有的半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。
本项低气压试验方法和IEC60068-2-13大体上一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，使用本部分条款。低气压试验箱GB/T4937.2-2006标准应用范围 http://www.bjyashilin.com
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新闻中心 低气压试验箱GB/T4937.2-2006标准应用范围
发布时间：2015-11-09 浏览次数：685 返回列表
低气压试验箱GB/T4937.2-2006《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分 低气压》本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000V的器件。
低气压试验箱GB/T4937.2-2006本项试验适用于所有的半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。 本项低气压试验方法和IEC60068-2-13大体上一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，使用本部分条款。低气压试验箱GB/T4937.2-2006标准应用范围 http://www.bjyashilin.com |
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